Weierstrass M testi

Matematikte Weierstrass M testi, terimleri kendi başına gerçel veya karmaşık değerli fonksiyon olan sonsuz serilerin yakınsaklığını belirlemeye yarayan bir yöntemdir.

Bir A {\displaystyle A} kümesi üzerinde, { f n } {\displaystyle \{f_{n}\}} gerçel veya karmaşık değerli bir fonksiyonlar dizisi olsun. Her n {\displaystyle n} 1 {\displaystyle 1} ve x {\displaystyle x} in A {\displaystyle A} için

| f n ( x ) | M n {\displaystyle |f_{n}(x)|\leq M_{n}}

şeitsizliğini sağlayan M n {\displaystyle M_{n}} pozitif katsayıları olsun. Ayrıca,

n = 1 M n {\displaystyle \sum _{n=1}^{\infty }M_{n}}

serisi yakınsak olsun. O zaman

n = 1 f n ( x ) {\displaystyle \sum _{n=1}^{\infty }f_{n}(x)}

serisi A {\displaystyle A} kümesi üzerinde düzgün yakınsaktır.

Weierstrass M testinin daha genel bir versiyonu ise { f n } {\displaystyle \{f_{n}\}} fonksiyonlarının hedef kümesinin Banach uzayı olduğu durumdur. Bu durumda,

| f n | M n {\displaystyle |f_{n}|\leq M_{n}}

ifadesi

| | f n | | M n {\displaystyle ||f_{n}||\leq M_{n}}

haline gelir. Burada | | | | {\displaystyle ||\cdot ||} ise Banach uzayındaki normdur. Bu testin Banach uzayındaki bir kullanım örneği için Fréchet türevine bakınız.

Kaynakça

  • Rudin, Walter (Ocak 1991), Functional Analysis, McGraw-Hill Science/Engineering/Math, ISBN 0-07-054236-8 
  • Rudin, Walter (Mayıs 1986), Real and Complex Analysis, McGraw-Hill Science/Engineering/Math, ISBN 0-07-054234-1 
  • Whittaker ve Watson (1927). A Course in Modern Analysis, 4. baskı. Cambridge University Press, sf. 49.